1) 系统测试用例设计已经通过评审
2) 按照系统测试计划完成了系统测试
3) 系统测试的功能覆盖率达100％
4) 系统的功能和性能满足产品需求规格说明书的要求
5) 在系统测试中发现的错误已经得到修改并且各级缺陷修复率达到标准
6) 系统测试后不存在A、B、C类缺陷
7) D类缺陷允许存在，不超过总缺陷的5％
8) E类缺陷允许存在，不超过总缺陷的10％
残留缺陷评估：
1）残留缺陷数等于最后一次回归测试发现的缺陷数。
2）
二、最有价值的准则，是以确切的数量来描述结束测试的条件；需要涉及对错误发现时期的预测。
涉及：
缺陷率（Defect Rate）：执行完全部测试用例后发现的缺陷比率；
缺陷密度（Defect Density）：每单位长度（一般位1000行）代码或FP（Function Point）发现的缺陷数
测试覆盖率（Test Coverage）：测试时代码或use case被覆盖的程度；
原文：http://zhenglb.blog.51cto.com/11522904/1768837