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verilog学习(7)实战之扫描链

时间:2018-04-23 22:22:05      阅读:229      评论:0      收藏:0      [点我收藏+]

一:可侧性设计简介(DFT)

1:什么是可测性?

  相当于debug中给程序段加入断点。

  设计工具自动将扫描插入到设计中,在设计通过仿真后,在设计阶段的后期,扫描被插入到设计中。扫描的目的是未来观察一个设计或者是整个芯片的内部变化。

2:JTAG

  用一组特别的测试端口来控制扫描操作,这组端口被称为JTAG。

二:简单扫描举例

  我们在实战一中加入扫描链

1:在Intro_Top中加入JTAG测试端口,加入5个1比特端口,先不连接它们,这5个端口分别是:ScanMode,ScanIn,ScanOut,ScanClr,ScanClk

2:  在Intro_Top(顶层设计)中的每一个I/O路径都插入D触发器,但JTAG的I/O除外

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3:在testbench里给ScanClk和ScanClr添加驱动,即赋值

以上即可简单实现扫描链,也简单呈现了扫描链的大致情况,下面是拓展

4:加入多路选择器来去除所有的同步行为,一个ff寄存器上被加上了两个多路选择器

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verilog学习(7)实战之扫描链

原文:https://www.cnblogs.com/xh13dream/p/8921985.html

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